據禎祥光電小編小敏了解資訊得知：10月28日至30日，“2017光學儀器與技術國際會議(OIT’2017)”在北京召開。該會由中國儀器儀表學會(CIS)和國際光學工程學會(SPIE)共同主辦，李天初院士等百余位國際著名專家出席本次會議。會議議題涉及光電系統與現代光電儀器、光通信與光信號處理、光電傳感與應用、先進激光器及其應用、光電成像與圖像處理技術、光電測量技術與系統、微納光子學及其制備工藝、THz技術與應用等八個領域。
上海市計量測試技術研究院派員出席 “光電測量技術與系統”分會，并作題為“Network placement optimization for large-scale distributed system(大尺寸分布式測量系統的網絡布局優化研究)”的張貼報告，展示了上海市計量測試技術研究院在大空間三維坐標溯源及多邊交會測量方面的研究進展。
通過參加此次會議，上海市計量測試技術研究院科研骨干與同行專家就形貌測量的精度評價、全站儀的目標自動識別、激光干涉測量系統誤差分析等光電測量問題進行了充分的交流，全面認識了光電測量領域的先進技術，拓寬了學術視野并激發了新的科研思路，有助于提升該院在大尺寸計量領域的能級和水平。
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